Korngrößenanalyse in Kupfer
In diesem Beispiel wird mit Hilfe des Clemex Vision Systems die Korngröße in einer Kupferlegierung mit Zwillingskörnern bestimmt.
Abbildung 1. Die Mikrostruktur des geätzten Kupfers wird mit 200-facher Vergrößerung dargestellt. Da sich die Zwillingsgrenzen schwer vom tatsächlichen Kornnetzwerk unterscheiden lassen, wird für die vorliegende Analyse ein Intercept-Verfahren angewendet.
Abbildung 2. Das zu analysierende Feld wird mit drei konzentrischen Kreisen überlagert. Bei einer automatischen Analyse mit einer Pause für die manuelle Bearbeitung werden die Kreise an den festgelegten Schnittpunkten getrennt. Vor den automatischen Messungen werden Artefakte eliminiert.
ZWECK
Zeigt die Fähigkeit des Clemex Vision Bildanalysesystems, halbautomatische Messungen der Korngröße durchzuführen. Die verwendeten Methoden und Prozesse werden in dem unten verlinkten Bericht beschrieben. Klicken Sie einfach auf "PDF herunterladen".
ERGEBNISSE
In jedem Abschnitt werden anhand der Heyn-Methode Korngrößemessungen gemäß ASTM E 112 vorgenommen. Es werden automatisch Statistiken und Diagramme erstellt und für alle analysierten Felder zusammengeführt (in diesem Fall 3). Siehe Abbildung 3. Die abschließenden Ergebnisse können direkt über Clemex Vision ausgedruckt werden. Rohdaten werden zur Auswertung mit den entsprechenden Objekten verknüpft. Die Rohdaten können auch in eine Excel-Datei exportiert werden.
