Beschichtungs- und Inconel-Charakterisierung

Für die Analyse wurden sechs Inconel-Proben mit unterschiedlichen Beschichtungen eingeschickt. Für die Messung der Schichtdicke und Porosität der Proben wurde Clemex Vision verwendet. 

Beschichtungs- und Inconel-Charakterisierung | Clemex

Abbildung 1. Ein typisches Bild der analysierten Beschichtung mit 100-facher Vergrößerung (0,9810 µm/Pixel). 

Beschichtungs- und Inconel-Charakterisierung | Clemex

Abbildung 2. Zur adäquaten Charakterisierung der Schicht werden mehrere Dickenmessungen herangezogen.

Beschichtungs- und Inconel-Charakterisierung | Clemex

Abbildung 3. Die Poren werden erkannt (grün) und ihr Bereich wird vermessen. Zur Ermittlung der Porosität wird der Porenbereich mit dem Gesamtbereich der Beschichtung verglichen.

ZWECK

Zeigt die Fähigkeit des Clemex Vision Bildanalysesystems, die folgenden Analysen durchzuführen:

  • Durchschnittliche Dicke von Beschichtungen
  • Verteilung der Beschichtungsbestandteile
  • Partikelverteilung in Beschichtungen
  • Porositätsanteil von Beschichtungen
  • Längenverteilung von Oxiden (globular oder fadenförmig) im Substrat
  • Spaltbreite Schicht / Basis
  • Spaltbreite Schicht / Basis
Beschichtungs- und Inconel-Charakterisierung | Clemex

ERGEBNISSE

Für die Analyse der Längenverteilung von Oxiden durfte nur das Inconel im Sichtfeld sichtbar sein. Gearbeitet wurde mit 100-facher Vergrößerung (0,9810 µm/Pixel). Damit konnten Objekte mit einer berücksichtigt werden sollten, wurde eine Chord Size-Instruktion verwendet werden. Um kleine Objekte auszuschließen, die in der Analyse nicht berücksichtigt werden sollten, wurde eine Selektion nach maximalem Durchmesser-Instruktion verwendet.