Dendritenarmabstände in einer Kupfer-Blei-Legierung
Zur Messung der Dendritenarmabstände wurde das TIFF-Bild einer dendritischen Kupfer-Blei-Legierung mit 100-facher Vergrößerung eingeschickt.
Abbildung 1. Originalbild mit 100-facher Vergrößerung
Abbildung 2. Die Bleimatrix wird in die blaue Bitebene binarisiert. Der Anwender kann für die Vermessung gerade Linien durch die Dendritenarme zeichnen.
Abbildung 3. Um nur die Linien beizubehalten, die die Bleimatrix (blau) durchlaufen, werden Binäroperationen durchgeführt.
ZWECK
Zeigt die Fähigkeit des Clemex Vision Bildanalysesystems, den durchschnittlichen Dendritenarmabstand zu messen. Die verwendeten Methoden und Prozesse werden in dem unten verlinkten Bericht beschrieben. Klicken Sie einfach auf "PDF herunterladen".
ERGEBNISSE
Um die Auswirkung von Kratzern bei der Ermittlung der Zellintervalle zu minimieren, wird eine sorgfältig polierte Oberfläche vorausgesetzt. Die Analyse mehrerer Felder ergibt aussagekräftigere Ergebnisse. Die abschließenden Ergebnisse können direkt über Clemex Vision ausgedruckt werden. Rohdaten werden zur Auswertung mit den entsprechenden Objekten verknüpft. Die Rohdaten können auch in eine Excel-Datei exportiert werden.
