DE
FR
DE
Kontaktieren Sie uns
Produkte
Produkte nach Branche
CLEMEX Vision |
Bildanalyse
CLEMEX Studio |
Segmentierungs-Tool
CLEMEX CMT |
Härteprüfung
CLEMEX PSFILTER |
Reinheitsgradbestimmung
CLEMEX CIR |
Reinheitsgradbestimmung
CLEMEX Captiva |
Bilderfassung
Lösungen
Anwendungskatalog
Universelle Korngrößenanalyse
Korn- und Zellgröße |
Anwendungspaket
Schichtdicke |
Anwendungspaket
Phasenanalyse |
Anwendungspaket
Partikelgröße |
Anwendungspaket
Dendritabstand |
Anwendungspaket
Ausrüstung
Kameras
Nikon Mikroskope
Leica Mikroskope
Mikroskoptische
Tischzubehör
Tischmikrometer
Härteprüfgeräte
Pulver-Dispergierer
Info
Unternehmen
Support
Clemex CarePlan
Lernen
Karriere
Kontaktieren Sie uns
Seite wählen
Material
Klar
- Sonstiges
Aluminium
Gusseisen
Keramiken
Chemikalien und Pharma
Beschichtungen
Kupfer
Fasern
Filter und Wafer
Mineralien
Stahl
Superlegierungen
Titan
Analyse
Klar
Zeilenstruktur
Zellengröße
Reinheit
Entkohlung
Dendritenarmabstände
Dichte
Direktmessungen
Ferrit-Perlit
Spangröße
y’-Phase
Korngröße
Härte
Bestimmung von Einschlüssen
Schichtdicke
Morphologie
Nodularität
Objektausrichtung
Partikelgröße und -form
Phasenanalyse
Porosität
Standard
Klar
ASTM A247
ASTM E1077
ASTM E112 / E1382
ASTM E1122
ASTM E1268
ASTM E45
DIN 50602
DIN K
DIN M
IEST-STD-CC1246D
ISO 16232
ISO 4406-4407
ISO 945-2
JIS G 0555
USP 788
Größe und Form von Partikeln in Augentropfen
Zu Angebot hinzufügen
Mikrohärte und Porosität (Vickers)
Zu Angebot hinzufügen
Schweißnahtanalyse
Zu Angebot hinzufügen
Zellgrößenanalyse in extrudiertem Schaumstoff
Zu Angebot hinzufügen
Spangröße in grauem Gusseisen
Zu Angebot hinzufügen
y’-Phase-Partikelanalyse
Zu Angebot hinzufügen
Analyse der Zeilenstruktur gemäß ASTM E1268
Zu Angebot hinzufügen
Sandpartikelcharakterisierung
Zu Angebot hinzufügen
Größe und Form von Tonerpartikeln
Zu Angebot hinzufügen
Dendritenarmabstände in einer Kupfer-Blei-Legierung
Zu Angebot hinzufügen
Charakterisierung einer thermischen Spritzbeschichtung
Zu Angebot hinzufügen
Charakterisierung von WC-Co-Legierungen
Zu Angebot hinzufügen
Beschichtungscharakterisierung
Zu Angebot hinzufügen
Beschichtungscharakterisierung von Siliciumcarbiden
Zu Angebot hinzufügen
Auswertung von Al2O3-Clustern und Argon-Hohlräumen
Zu Angebot hinzufügen
„
1
2
3
4
“